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tem和sem的特点_tem和sem的区别-当前动态
来源: 互联网      时间:2023-06-12 19:50:31


(资料图片仅供参考)

1、TEM和SEM的异同比较分析以及环境扫描电镜,场发射电镜与传统电镜相比较的技术特点和应用xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。

2、AES是指能谱,主要分析浓度分布。

3、STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。

4、AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的。

5、TEM:透射电子显微镜(英语:Transmission electron microscope,缩写TEM),简称透射电镜,是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向,从而产生立体角散射。

6、散射角的大小与样品的密度、厚度相关,因此可以形成明暗不同的影像。

7、通常,透射电子显微镜的分辨率为0.1~0.2nm,放大倍数为几万~百万倍,用于观察超微结构,即小于0.2μm、光学显微镜下无法看清的结构,又称“亚显微结构”。

8、 TEM是德国科学家Ruskahe和Knoll在前人Garbor和Busch的基础上于1932年发明的。

9、其他的建议楼主查看文献啊,文献上讲解都是比较详细的,百度知道字数有限,只能给你粘贴这么多了。

本文就为大家分享到这里,希望小伙伴们会喜欢。

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